X射线荧光光谱法快速分析锡矿石中主次成分的含量

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前言

锡是一种储量有限、分布集中的稀缺战略性金属。中国是全球最大锡生产国，中国锡矿的资源特点：总量可观、品位偏低、开采趋难，开采成本持续走高。

锡主要应用于锡焊料，同时广泛用于电子、半导体和AI硬件方面。另外，光伏和新能源汽车等新兴行业的需求也持续增长。

锡矿开采难度的增加，锡需求的增加，对锡矿的品质和检测提出了更高的要求。

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X射线荧光光谱法

X射线荧光光谱仪的主要特点：精密度高，可以直接分析固体样品。可以精准地分析固体样品中的主量成分和次量成分。尤其波长色散型X射线荧光光谱仪，其长期稳定性可以达到0.05%（相对标准偏差）。

采用湿法化学分析方法分析锡矿石的主次成分时，锡矿石难溶，样品前处理步骤多，操作复杂耗时。X射线荧光光谱法分析锡矿石，可以采用压片制样直接测量原样，制样简单，分析速度快。

本文采用S8 TIGER型波长色散X射线荧光光谱仪，压片制样分析锡矿石中Sn等16个主次成分的含量，核心优势是简便、低成本，适用于快速的生产监控。

▲第二代S8 TIGER

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样品制备

压片制样：

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标准样品

采用湿法化学方法定值的二级标样建立校准曲线。

二级标样的含量范围如下：

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校准曲线

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精密度测试结果